Chào mừng bạn đến với HelloChao

 Mọi người ơi, dịch giúp mình đoạn văn này với, nó là từ ngữ chuyên ngành, có những từ gần như mình bó tay, làm thế nào cũng không thể dịch hợp với ngữ cảnh được, khó khăn quá, hixhix.....thanks all!

 Ellipsometry and Adsorption Experiments. Ellipsometric

measurements were performed using a vertical computer-controlled

DRE-EL02  ellipsometer  (Ratzeburg,  Germany).  The  angle  of

incidence was set at 70.0°, and the wavelength, λ, of the He-Ne

laser was 632.8 nm. For the data interpretation(giải thích), a multilayer (nhiều tầng) model

composed(bao gồm) of the substrate( phức hợp, the unknown layer, and the surrounding

medium should be used. The thickness (dk) and refractive (có tính khúc xạ) index(chỉ số) (nk)

of the unknown layer can then be calculated from the ellipsometric

angles, ∆ and Ψ, using the fundamental ellipsometric equation and

iterative calculations with Jones matrices:19

ei∆ tan Ψ)Rp⁄Rs)f(nk, dk,λ,φ)                                   

where Rp and Rs are the overall reflection coefficients for the parallel

and perpendicular waves, respectively. They are a function of the

angle of incidence φ, the wavelength λ of the radiation, the refractive

index (nk), and the thickness (dk) of each layer of the model.

From the ellipsometric angles ∆ and Ψ and a multilayer model

composed of silicon, silicon dioxide, enzyme layer, and air, it is

possible to determine only the thickness of the cellulase layer, d.

The thickness of the SiO2 layers was determined in air, considering

the refractive index for Si as n˜ ) 3.88 - i0.01820 and its thickness

as an infinite one; for the surrounding medium (air), the refractive

index was considered as 1.00. Because the native SiO2 layer is very

thin, its refractive index was set as 1.46220 and just the thickness

was calculated. The mean thickness of the native SiO2 layer amounted

to (1.9 ( 0.2) nm.

Adsorption kinetics was investigated either at (24 ( 1) °C or at

(60 ( 1) °C by immersing Si wafers into cellulase solution at the

concentration of 0.500 mg mL-1 during different periods of times,

which ranged from 0.5 to 72 h. After each period of time, the samples

were washed with an abundance of distilled water and dried under

a stream of N2. The mean thickness of adsorbed cellulase layers d

was determined in air, and the adsorbed amount of cellulase, Γ (mg

m-2), could be estimated by multiplying d by the density F of a dry

enzyme layer (F ∼ 1.37 g cm-3):21

Γ ) Fd                               

Adsorption  isotherms  of  cellulase  onto  silicon  wafers  were

obtained  by  immersing  the  substrates  into  cellulase  solutions

prepared in the concentration range of 0.005-1.00 g L-1 at pH

6.5, either at (24 ( 1) °C or at (60 ( 1) °C. The samples were then

washed with an abundance of distilled water and dried under a stream

of N2, and then the mean thickness of adsorbed cellulase layers d was

determined in air and Γ was calculated using eq 2. Cellulase desorption

was investigated at (24 ( 1) °C or at (60 ( 1) °C by monitoring

cellulase adsorbed layer thickness after immersion in distilled water

during 24 h.

Atomic  force  microscopy  (AFM)  topographic  images  were

obtained  using  a  PicoSPM-LE  Molecular  Imaging  system  with

cantilevers operating at intermittent-contact mode (AAC mode), in

their  resonance  frequency  of  approximately  327  kHz  in  air.  All

topographic images represent unfiltered original data and refer to

scan areas ranging from 1.3 µm × 1.3 µm to 2.0 µm × 2.0 µm with

a resolution of (512 × 512) pixels. At least two samples of the same

material  were  analyzed  at  different  areas  of  the  surface.  Image

processing  and  determination  of  mean  roughness  (rms)  were

performed by using the PicoScan 5.3.2 software.

Catalytic ActiVity of Adsorbed Cellulase and Free Cellulase. The

hydrolysis of cellulose catalyzed by cellulase yields glucose as the

product (see Scheme 1 in the Supporting Information). In this work,

glucose  was  quantified  using  coupled  reactions  with  hexokinase

type III, from Baker's yeast (HK, H5000), and glucose-6-phosphate

dehydrogenase, also from Baker's yeast (G-6-PDH, G4134):

 

The reduction of nicotinamide adenine dinucleotide phosphate

sodium salt (NADP+, N0505) to NADPH was monitored by UV-vis

spectrophotometry (Beckman-Coulter DU 600) as a function of time,

at the wavelength of 340 nm, according to Bergmeyer's method.22

The concentration of NADPH was calculated using the Lambert-Beer

equation and considering the optical pathway as 1 cm and molar

extinction coefficient23 of NADPH of 6.220 L mol-1 cm-1. The final

value of NADPH concentration was measured after 0.5 h reaction,

since absorbance values were constant already after 20 min. Therefore,

NADPH concentration is directly proportional to glucose formed by

hydrolytic activity of cellulase.

In order to test the hydrolysis of cellulose catalyzed by immobilized

cellulase, six pieces of silicon wafers, with a total of 6 cm2 of cellulase,

were immersed into a glass vial containing 10 mL of a 5 w/w %

cellulose dispersion prepared in acetate buffer (50 mmol L-1) at pH

4.6. The temperature was kept at 37, 45, or 60 °C during 24 h. The

recipe  was  just  occasionally  shaken,  because  continuous  stirring

showed no influence on the catalytic activity. After 24 h, an aliquot

was  collected  and  centrifuged  for  4  min  at  13 400  rpm.  The

supernatant was removed, and the glucose content in it was quantified 

by NADPH formation. For comparison, the catalytic activity of free

cellulase was also tested. For this, the amount of free cellulase used

was the quantity corresponding to that of immobilized cellulase,

which was added to 10 mL of cellulose dispersion, and, as described

above,  NADPH  formation  was  monitored.  For  the  comparative

experiments, first the adsorbed amount (mass/area) was determined

by means of ellipsometry. Since the Si wafer area is known, the

corresponding mass of adsorbed cellulase can be estimated. Once

the volume of the cellulose dispersion is known, where the cellulase

covered Si wafers are immersed, the cellulase concentration can

be estimated. This estimated value of cellulase concentration was

used for free cellulase.